NF EN 60749-11, C96-022-11 (12/2002)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11 : rapid change of temperature - Two-fluid-bath method - Dispositifs à semiconducteurs

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Description

Features

Life cycle

Historical

Summary

Le présent document décrit l'essai relatif aux variations rapides de température et à la méthode des deux bains.

Notes

Remplace l'article 1.2 du chapitre 3 de la norme NF EN 60749 (C96-022) de décembre 1999 et ses amendements A1 de février 2002 et A2 de juin 2002

Technical characteristics

Publisher	Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date	12/01/2002
Release Date	12/01/2002
Page Count	10
Themes	Electrotechnologies
EAN	---
ISBN	---
Weight (in grams)	---