NF EN 60749-23/A1, C96-022-23/A1 (05/2012)
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NF EN 60749-23/A1, C96-022-23/A1 (05/2012)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23 : high temperature operating life - Dispositifs à semiconducteurs
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Summary

Le présent document modifie les articles 7 et 9 de la norme homologuée NF EN 60749-23 de juillet 2004.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 05/01/2012
Release Date 05/01/2012
Page Count 7
Themes Electrotechnologies
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---

modifies

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