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NF EN 60749-27/A1, C96-022-27/A1 (03/2013)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27 : electrostatic discharge (ESD) sensivity testing - Machine model (MM) - Dispositifs à semiconducteurs

Summary

Le présent document modifie les articles 3 (définitions) et 5 (Exigences de forme d'onde de courant du Modèle de machine).

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 03/01/2013
Release Date 03/01/2013
Page Count 7
Themes Electrotechnologies
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---