Superseded
Standard
Historical
NF EN 60749-28, C96-022-28 (06/2017)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28 : Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Direct contact charged device model (DC-CDM)
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Summary
Le présent document établit une procédure pour les essais, l'évaluation et la classification des dispositifs et des microcircuits en fonction de leur susceptibilité (sensibilité) aux dommages ou de leur dégradation à la suite de leur exposition à des décharges électrostatiques (DES) sur un modèle défini du composant chargé (CDM) par induction.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 06/01/2017 |
| Release Date | 06/01/2017 |
| Cancellation Date | 06/01/2025 |
| Page Count | 56 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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