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NF EN 60749-3, C96-022-3 (06/2017)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3 : external visual examination

Summary

Le présent document a pour but de vérifier que les matériaux, la conception, la construction, les marquages et l'exécution du dispositif à semiconducteurs sont conformes au document d'approvisionnement applicable. L'examen visuel externe est un essai non destructif et il s'applique à tous les types de boîtiers. Cet essai est utile pour la qualification, la surveillance des procédés ou pour la réception des lots.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 06/01/2017
Release Date 06/01/2017
Page Count 15
Themes Electrotechnologies
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---