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NF EN 60749-3, C96-022-3 (06/2017)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3 : external visual examination
Summary
Le présent document a pour but de vérifier que les matériaux, la conception, la construction, les marquages et l'exécution du dispositif à semiconducteurs sont conformes au document d'approvisionnement applicable. L'examen visuel externe est un essai non destructif et il s'applique à tous les types de boîtiers. Cet essai est utile pour la qualification, la surveillance des procédés ou pour la réception des lots.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 06/01/2017 |
| Release Date | 06/01/2017 |
| Page Count | 15 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |