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NF EN 60749-40, C96-022-40 (02/2012)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40 : board level drop test method using a strain gauge - Dispositifs à semiconducteurs
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Summary
Le présent document est destiné à évaluer et comparer la performance de chute d'un dispositif à semiconducteurs pour montage en surface dans des applications de produits électroniques portatifs dans un environnement d'essai accéléré, où une flexion excessive d'une carte à circuit imprimé provoque une défaillance du produit.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 02/01/2012 |
| Release Date | 02/01/2012 |
| Page Count | 25 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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