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NF EN 60749-7, C96-022-7 (02/2012)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7 : internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases - Dispositifs à semiconducteurs
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Summary
Le présent document spécifie les essais et les mesures de la teneur en vapeur d'eau et en autres gaz de l'atmosphère à l'intérieur d'un dispositif métallique ou céramique scellé hermétiquement.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 02/01/2012 |
| Release Date | 02/01/2012 |
| Page Count | 13 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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