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NF EN 62215-3, C96-215-3 (03/2014)

Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3 : non-synchronous transient injection method - Circuits intégrés

Summary

Le présent document spécifie une méthode pour mesurer l'immunité d'un circuit intégré (CI) aux perturbations transitoires électriques conduites normalisées. Les perturbations, non nécessairement synchronisées sur le fonctionnement du dispositif en essai (DUT, device under test), sont appliquées aux broches du circuit intégré via des réseaux de couplage. Cette méthode permet de comprendre et de classer les interactions entre des perturbations ransitoires conduites et la dégradation de fonctionnement induite dans les circuits intégrés indépendamment des transitoires à l'intérieur ou au-delà de la gamme de tensions de fonctionnement spécifiées.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 03/01/2014
Release Date 04/01/2014
Page Count 37
Themes Electrotechnologies
EAN ---
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Weight (in grams) ---
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