NF EN IEC 60749-5, C96-022-5 (01/2024)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5 : essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

Automatic translation from French :
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: continuous life test under temperature and humidity with bias

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5 : steady-state temperature humidity bias life test

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5 : essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation