VDI/VDE 5575 Blatt 3:2009-02
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VDI/VDE 5575 Blatt 3:2009-02

X-Ray optical systems - Cappilary x-ray optics
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Summary

Diese Richtlinie bezieht sich auf röntgenoptische Systeme auf der Verwendung von Kapillaren zur Beeinflussung von Röntgenstrahlung beruhen.*www.vdi.de/5575

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 02/01/2009
Cancellation Date 07/01/2011
Page Count 7
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
No products.

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