XP A09-285 (05/1999) (R2012)

Le présent document décrit les principes généraux et les limites des méthodes de détermination des contraintes résiduelles par la diffraction des rayons X. Il définit en particulier les conditions : préparation des pièces à soumettre à l'essai, de réalisation et d'évaluation des échantillons de référence, de choix et de qualification de l'appareillage, ainsi que le mode opératoire et le traitement des résultats. Le présent document s'appuie sur les documents en cours d'élaboration au sein du CEN/TC 138 "Essais non destructifs" concernant les principes généraux, les procédures, les matériaux de référence et l'appareillage pour la diffraction des rayons X des matériaux polycristallins et amorphes.