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NF EN 60749-4, C96-022-4 (06/2017)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4 : Damp Heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
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Summary
Le présent document décrit un essai de contrainte de température et d'humidité fortement accéléré (HAST, highly accelerated temperature and humidity stress test) qui est réalisé dans le but d'évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 06/01/2017 |
| Release Date | 06/01/2017 |
| Page Count | 14 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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