Superseded Standard
Historical

NF EN 60749-4, C96-022-4 (12/2002)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4 : essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide (HAST)

Summary

Le présent document décrit l'essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide appliqué aux semiconducteurs.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 12/01/2002
Release Date 12/01/2002
Cancellation Date 09/01/2024
Page Count 10
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Weight (in grams) ---
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