VDI/VDE 5575 Blatt 4:2009-09
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VDI/VDE 5575 Blatt 4:2009-09

X-ray optical systems - X-ray mirrors - Total reflection mirrors and multi layer mirrors
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Summary

Diese Richtlinie bezieht sich auf reflektive röntgenoptische Systeme, die auf der Nutzung der Totalreflektion sowie Multischichtsystemen zur Beeinflussung der Röntgenstrahlung beruhen.*www.vdi.de/5575

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 09/01/2009
Cancellation Date 08/01/2011
Page Count 10
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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