Vocabulaire Électrotechnique International - Partie 521 : dispositifs à semiconducteurs et circuits intégrés
€188.67
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 4: Coding system and classification into forms of package outlines for semiconductor device packages
€28.00
Additif 1 à la norme NF C 86-613 de juin 1981
€32.33
Additif 2 à la publication UTE C 86-613 de mars 1979
€56.33
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22 : bond strength - Dispositifs à semiconducteurs
€93.33
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32 : flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced) - Dispositifs à semiconducteurs
€42.67
Semiconducteur devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 : power cycling - Dispositifs à semiconducteurs
€76.00
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
€40.00
Additif 1 à la norme NF C 86-712 de juin 1981
IEC 60749-26:2013 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
€342.00
MICROPROCESSOR SYSTEM BUS FOR 1 TO 4 BYTE DATA.
€187.00
International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 521: Semiconductor devices and integrated circuits
€134.00
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15 : isolated power semiconductor devices - Dispositifs à semi-conducteurs
€106.33
IEC 61954:2011 Static var compensators (SVC) - Testing of thyristor valves
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits intégrés - Partie 2 : diodes de redressement
€162.50
