IEC 60749-21:2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
€186.00
IEC 61954:2021 Static VAR compensators (SVC) - Testing of thyristor valves
€342.00
LED modules for general lighting - Safety specifications
€64.00
€53.00
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 19 : compas électroniques
€123.00
Semiconducteurs - Diodes hyperfréquences - Diodes schottky - Prescriptions générales.
€175.33
Additif 1 à la norme NF C 87-617 de février 1977 (homologuée en juin 1981)
€32.33
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11 : rapid change of temperature - Two-fluid-bath method - Dispositifs à semiconducteurs
€58.00
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16 : particle impact noise dectection (PIND) - Dispositifs à semiconducteurs
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36 : acceleration steady state - Dispositifs à semiconducteurs
€42.67
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17 : neutron irradiation - Dispositifs à semiconducteurs
€56.33
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18 : ionizing radiation (total dose) - Dispositifs à semiconducteurs
€91.00
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25 : temperature cycling - Dispositifs de semiconducteurs
€76.00
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20 : resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat - Dispositifs à semiconducteurs
€106.33
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1 : handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat - Dispositifs à semiconducteurs
