IEC 62047-16:2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16: Test methods for determining residual stresses of MEMS films - Wafer curvature and cantilever beam deflection methods
€46.00
IEC 62007-1:2015 Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications - Part 1: Specification template for essential ratings and characteristics
€302.00
Static VAR compensators (SVC). Testing of thyristor valves
€370.00
BS EN 60601-2-93 Medical electrical equipment Part 2-93: Particular requirements for the basic safety and essential performance of neutron capture therapy
€24.00
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 1 : general
€102.58
Normalisation thermique des boîtiers de semiconducteurs - Partie 3 : modèles de simulation de circuits thermiques de boîtiers de semiconducteurs discrets pour analyse transitoire
€93.33
BS EN IEC 63068-5 Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Part 5. Test method using X-ray topography
BS EN IEC 63567-1 Semiconductor devices. Performance evaluation of semiconductor processing components and inspection equipment Part 1. Transmittance method EUV pellicle
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (IEC 47/2759/CD:2022); Text in German and English
€105.42
Semiconductor devices - Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment - Part 3: Human foot impact motion (IEC 47/2758/CD:2022); Text in German and English
€111.40
Composants électroniques - Système CENELEC d'assurance de la qualité - Diodes de redressement à température de boîtier spécifiée - Spécification particulière cadre.
€56.33
Composants électroniques - Système CENELEC d'assurance de la qualité - Diodes de redressement à température ambiante spécifiée - Spécification particulière cadre.
Composants électroniques - Système CENELEC d'assurance de la qualité - Thyristors à température ambiante spécifiée - Spécification particulière cadre.
Composants électroniques - Système CENELEC d'assurance de la qualité - Thyristors à température de boîtier spécifiée - Spécification particulière cadre.
Composants électroniques - Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets - Huitième partie : transistors à effet de champ - Section un - Spécification particulière cadre pour les transistors à effet de champ à grille unique, jusqu'à 5 W et 1 GHz
€91.00
