31.080 : Semiconductor devices

31.080.01

Semiconductor devices in general

31.080.10

Diodes

31.080.20

Thyristors

31.080.30

Transistors

31.080.99

Other semiconductor devices
UTE C96-027, C96-027U (03/1998)

UTE C96-027, C96-027U (03/1998)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Règles pour la gestion de la fin de vie des composants et pour leur remplacement (obsolescence des composants électroniques). Prescriptions provisoires.

€56.33

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UTE C96-028, C96-028U (06/1998)

UTE C96-028, C96-028U (06/1998)

Withdrawn Most Recent

Dispositifs à semi-conducteurs - Procédures pour la certification d'une ligne de fabrication et la gestion de la qualité et guide pour l'obtention de la certification QML - Prescriptions provisoires.

€106.33

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NF EN 60749, C96-022 (12/1999)

NF EN 60749, C96-022 (12/1999)

Withdrawn Most Recent

Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques

€131.50

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NF EN 62047-15, C96-050-15 (11/2015)

NF EN 62047-15, C96-050-15 (11/2015)

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Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 15 : méthode d'essai de la résistance de collage entre PDMS et verre

€93.33

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NF EN 60749-3, C96-022-3 (12/2002)

NF EN 60749-3, C96-022-3 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 3 : examen visuel externe

€41.67

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NF EN 60749-4, C96-022-4 (12/2002)

NF EN 60749-4, C96-022-4 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4 : essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide (HAST)

€56.33

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NF EN 60749-6, C96-022-6 (12/2002)

NF EN 60749-6, C96-022-6 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 6 : stockage à haute température

€41.67

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NF EN 60749-7, C96-022-7 (12/2002)

NF EN 60749-7, C96-022-7 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7 : mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels

€56.33

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NF EN 60749-9, C96-022-9 (12/2002)

NF EN 60749-9, C96-022-9 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 9 : permanence du marquage

€56.33

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NF EN 60749-12, C96-022-12 (12/2002)

NF EN 60749-12, C96-022-12 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 12 : vibrations, fréquences variables

€41.67

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NF EN 60749/A1, C96-022/A1 (02/2002)

NF EN 60749/A1, C96-022/A1 (02/2002)

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Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques

€67.00

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NF EN 60749-15, C96-022-15 (08/2003)

NF EN 60749-15, C96-022-15 (08/2003)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 15 : résistance à la température de soudage pour dispositifs par trous traversants

€56.33

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NF EN 60749-5, C96-022-5 (06/2003)

NF EN 60749-5, C96-022-5 (06/2003)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5 : essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

€56.33

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NF EN 60749-13, C96-022-13 (12/2002)

NF EN 60749-13, C96-022-13 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : atmosphère saline

€56.33

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NF EN 60749/A2, C96-022/A2 (06/2002)

NF EN 60749/A2, C96-022/A2 (06/2002)

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Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques

€108.50

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