Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 34-1 : essai de cycles en puissance pour modules de puissance à semiconducteursAutomatic translation from French : Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: power cycle testing for semiconductor power modules
€123.00
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour système IDO - Partie 1 : méthode d'essai de détection de variation acoustique
€76.00
Dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs pour application dans les systèmes à fibres optiques - Partie 1 : Modèle de spécification relatif aux valeurs et caractéristiques essentielles
€58.00
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5 : essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisationAutomatic translation from French : Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: continuous life test under temperature and humidity with bias
Amendement 1 - Sources lumineuses à diodes électroluminescentes organiques (OLED) destinées à l'éclairage général - Sécurité - Partie 2-2: Exigences particulières - Modules OLED intégrésAutomatic translation from French : Amendment 1 - Organic light-emitting diode (OLED) light sources for general lighting - Safety - Part 2-2: Particular requirements - Integrated OLED modules
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-9 : circuits intégrés hyperfréquences - DéphaseursAutomatic translation from French : Semiconductor devices - Part 16-9: microwave integrated circuits - Phase shifters
€134.67
Dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs pour application dans les systèmes fibroniques - Partie 2 : méthodes de mesureAutomatic translation from French : Optoelectronic semiconductor devices for application in fibronic systems - Part 2: measurement methods
Modules LED - Exigences de sécuritéAutomatic translation from French : LED Modules – Safety Requirements
€122.00
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19 : die shear strength - Dispositifs à semiconducteurs
€42.67
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23 : high temperature operating life - Dispositifs à semiconducteurs
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7 : internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases - Dispositifs à semiconducteurs
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30 : preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing - Dispositifs à semiconducteurs
€56.33
Semiconductor die products - Part 2 : exchange data formats
€143.80
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9 : wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS - Dispositifs à semiconducteurs
€109.00
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40 : board level drop test method using a strain gauge - Dispositifs à semiconducteurs
