Draft BS EN 63567-4 Semiconductor devices. Performance evaluation of semiconductor processing components and inspection equipment Part 4. Evaluation methods for dimensional accuracy laser dicing process
€24.00
IEC 60749-34-1:2025 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module
€244.00
Thermal standardization on semiconductor packages circuit simulation models of discrete for transient analysis
€201.00
IEC 62007-2:2025 Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications - Part 2: Measuring methods
€342.00
Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices (IEC 60747-15:2024); German version EN IEC 60747-15:2024.
€162.06
Normalisation thermique des boîtiers de semiconducteurs - Partie 6 : Modèle de résistance thermique et de capacité pour la prédiction de la température transitoire aux points de jonction et de mesure
€113.50
Dispositifs à semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité - Partie 4 : évaluation des défaillances précoces
€68.00
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Power cycling for power semiconductor module
€329.00
Draft BS EN 60747-17 Ed.2.0 Semiconductor devices Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic reinforced insulation
Dispositifs hyperfréquences - Circulateurs - Isolateurs
€145.67
Dispositifs hyperfréquences - Relais et commutateurs électromécaniques coaxiaux et en guides d'ondes
€131.33
Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs - Partie 6-17 : règles générales pour la préparation des dessins d'encombrement des dispositifs à semiconducteurs à montage en surface - Guide de conception pour les boîtiers empilés - Boîtiers matriciels à billes et à pas fins et boîtiers matriciels à zone de contact plate et à pas fins (P-PFBGA et P-PFLGA)
€106.33
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 47/2881/CDV:2024); German and English version prEN IEC 60749-23:2024
€69.91
Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications Measuring methods
€370.00
Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 3: Guidelines for reliability qualification plans for power semiconductor module (IEC 47/2873/CDV:2024); German and English version prEN IEC 63287-3:2024
€122.34
